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Le 28 avril 2010
Madame, Monsieur,
Aujourd’hui plus que jamais, il est vital de débattre, s’informer, nouer des contacts et échanger.
Nous vous invitons donc à découvrir le salon MESUREXPOVISION - issu du rapprochement des salons Mesurexpo et Vision Show - les 1er, 2 & 3 juin 2010 à Paris Porte de Versailles.
METROLOGIE, TEST ET MOYENS D’ESSAIS, CAPTEURS, CONTROLE NON DESTRUCTIF, EQUIPEMENT DE LABORATOIRE, SYSTEMES DE VISION …150 Experts dans ces domaines vous présenteront leur savoir-faire avec une mise à l’honneur des secteurs : Métrologie et Contrôle Non Destructif.
Découvrez les temps forts !
 1 espace d’animations « Le CND au coeur de la matière, la maîtrise de la qualité »
4 remises de prix : Prix YVES ROCARD, Prix JEUNE CHERCHEUR DANIEL GUINIER, Prix D'INSTRUMENTATION DE LA DIVISION DE CHIMIE PHYSIQUE, Prix de la revue MESURES.
6 cycles de conférences : un programme exceptionnel pour tout savoir sur la métrologie, le CND, les Nanosciences, le laser, la CEM et les tests et moyens d'essais.
• Métrologie : la maîtrise des mesures - Collège Français de Métrologie
• Le CND : état de l'art et applications industrielles - CETIM
• Nanosciences et Valorisation - Centre de compétence Nanosciences Ile-de-France, C’nano Ile-de-France, SFP
• Mesure, lasers et applications : l’importance du laser dans le monde d’aujourd’hui - Société Française de Physique, Fédération Française des Sociétés Scientifiques (F2S)
• CEM - Bureau Veritas LCIE, Philippe SISSOKO
• Colloque ASTELAB "La Maturité des produits par l'expérimentation" - ASTE
Ne manquez pas ce rendez-vous les 1er, 2 & 3 juin 2010 à Paris Porte de Versailles.
Demandez dès aujourd’hui votre BADGE D’ACCES GRATUIT !
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Dans l’attente de vous accueillir,
Cordialement.
Thierry GUERMONPREZ
Directeur
Retrouvez toute l’actualité du salon sur : www.mesurexpovision.com
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